Συσκευή δοκιμής αποτυπώματος με πτώση
Συμπαγής διάταξη για τον έλεγχο της συμπεριφοράς αποτύπωσης πλαστικών υλικών υποστήριξης σε βαλλιστικές δοκιμές.
NIJVPAMHOSDB
Πρότυπα αναφοράς δοκιμής NIJ, VPAM, HOSDB
Εύρος ύψους πτώσης 1,5 – 2,0 m
Σετ σφαιρών 5 × χαλύβδινη σφαίρα, Ø 63,5 mm, 1039 g ±5 g
Περιγραφή
Η συσκευή δοκιμής αποτυπώματος με πτώση ελέγχει με επαναλήψιμο τρόπο τα πλαστικά υλικά υποστήριξης πριν από τις βαλλιστικές δοκιμές. Η εγκατάσταση εκτελεί διαδικασίες δοκιμών κατά NIJ, VPAM και HOSDB και διαθέτει ρυθμιζόμενο ύψος πτώσης μεταξύ 1,5 και 2,0 m.
Η χαλύβδινη σφαίρα συγκρατείται στην επάνω θέση και απελευθερώνεται ελεγχόμενα. Το προστατευμένο πλαίσιο με παράθυρα παρατήρησης, η επαφή θύρας και οι τροχοί με φρένο καθιστούν τη διάταξη κατάλληλη για εργαστήρια όπου ο εξοπλισμός δοκιμών τοποθετείται ή μετακινείται τακτικά.
Διάταξη δοκιμής
- Χαλύβδινη σφαίρα Ø 63,5 mm με 1039 g ±5 g
- Ρύθμιση ύψους από 1,5 έως 2,0 m
- Υποδοχείς υλικού κατάλληλοι για διατάξεις HOSDB, NIJ και VPAM
- Χρήση με υλικά Plastilina που καθορίζονται από το αντίστοιχο πρότυπο, ανάλογα με τη μέθοδο δοκιμής
- Δυνατότητα τεκμηρίωσης της θέσης της σφαίρας πριν από την απελευθέρωση
Πεδία εφαρμογής
- Προετοιμασία υλικών υποστήριξης για δοκιμές βαλλιστικής προστασίας
- Επαναληπτικός έλεγχος κατάστασης υλικού και συμπεριφοράς διείσδυσης
- Διαμόρφωση εργαστηριακών διατάξεων με βάση NIJ, VPAM και HOSDB
- Κινητή χρήση μέσα σε εργαστήρια δοκιμών
Συμβουλευτική για το εργαστήριο δοκιμών σας;
Ζητήστε συμβουλές χωρίς δέσμευση — βρίσκουμε το κατάλληλο όργανο για τις απαιτήσεις σας.


